勒霍普森DUO粗糙度儀：雙模式測(cè)量的高效之選

泰勒霍普森DUO粗糙度儀是一款創(chuàng)新的雙模式表面粗糙度測(cè)量設(shè)備，集接觸式探針測(cè)量與非接觸式光學(xué)測(cè)量于一體，滿足現(xiàn)代制造中多樣化、高效率的檢測(cè)需求。DUO專為車間現(xiàn)場(chǎng)與質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，適用于金屬、塑料、陶瓷等多種材料表面，廣泛應(yīng)用于汽車零部件、精密模具、電子元件等領(lǐng)域。

該儀器采用高精度直線導(dǎo)軌與低摩擦探針系統(tǒng)，確保接觸式測(cè)量的穩(wěn)定性和重復(fù)性，可精確獲取Ra、Rz、Rq等傳統(tǒng)粗糙度參數(shù)。同時(shí)，集成的共聚焦或白光干涉光學(xué)頭可在不接觸工件的情況下完成快速掃描，特別適合軟質(zhì)、易損或復(fù)雜曲面的測(cè)量。兩種模式可在同一平臺(tái)上自由切換，用戶無需更換設(shè)備即可完成不同類型的檢測(cè)任務(wù)。

DUO配備直觀的觸摸屏界面與TalyProfile®軟件，支持一鍵式測(cè)量、自動(dòng)判別與報(bào)告生成。內(nèi)置環(huán)境補(bǔ)償與振動(dòng)抑制技術(shù)，保障在工業(yè)環(huán)境下的測(cè)量可靠性。輕巧緊湊的設(shè)計(jì)便于移動(dòng)使用，同時(shí)支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出與SPC統(tǒng)計(jì)分析，助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)全面質(zhì)量管理。泰勒霍普森DUO粗糙度儀以其靈活性、精度與易用性，重新定義了表面粗糙度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)，是現(xiàn)代智能制造的質(zhì)量守護(hù)者。